Тонкая структура и текстура направленно-закристаллизованного эвтектического сплава никель — вольфрам

Рентгеноструктурные исследования проведены с использованием немонохроматизированного медного излучения на дифрактометрах ДРОН-1 и УРС-50И с приставкой ГП-2 (текстурный анализ). Образцы для электронной микроскопии изготовлены направленным срезом пластин слитка при обильном охлаждении. Окончательное утонение (от толщины 0,05 мм) проведено электролитическим двухструйным методом; охлаждение электролита осуществлялось жидким азотом. Просмотр фольг сплава проводился в электронном микроскопе УЭМВ-ЮОК.

Во всех случаях на рентгенограммах сплава наблюдались три системы интерференционных линий: никелевой матрицы, вольфрамовых волокон и избыточной фазы, что соответствует фазовому составу сплава. Независимо от скорости кристаллизации на рентгенограммах продольного и поперечно среза присутствует линия (200) матрицы, соответствующая отражению от плоскостей {100}. Только в некоторых случаях регистрируется слабая линия (220)«. Из 19 возможных линий вольфрама на рентгенограммах в большинстве случаев присутствуют 11; исчезают линии с большой суммой квадратов индексов. По этим данным можно качественно судить о сильной текстурованности никелевой матрицы. Подробный текстурный анализ был проведен методом построения полюсных фигур.

Исследования по текстурам литья двойных эвтектических сплавов немногочисленны. В литых бинарных эвтектиках наблюдались и кольцевая аксиальная текстуры и кубическая, характерная для столбчатых кристаллов, при которой ребро куба совпадает с направлением оси кристалла, а в плоскости, перпендикулярной его оси, лежат плоскости куба, т. е. ориентировка {100}<100>.

Детальный анализ текстуры матрицы сплава подтверждает наличие в ней острой текстуры роста {100}<100>. В некоторых случаях (при скоростях кристаллизации 1-6 см/час) на полюсных фигурах {200} отмечаются дополнительные ориентировки (130), которые могут рассматриваться как рассеяние основной текстуры, так как интенсивность их невелика. При скорости кристаллизации 8 см/час наблюдается ориентировка (111), которая свидетельствует о появлении кристаллов с двойниковой ориентацией. Плоскость двойниксшания (111) располагается вдоль оси слитка, а направление лежащее в этой плоскости, параллельно оси роста.